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X荧光光谱仪测试方法

点击次数:749 发布时间:2017-02-17

  1¶••⊿ X荧光光谱仪样品制备

  进行x射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液••。无论什么样品,样品制备的情况对测定误差影响很大••。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹;化学组成雷同,热处理过程不同的样品,得到的计数率也不同;成份不均匀的金属试样要重熔,快速冷却后车成圆片;对表面不平的样品要打磨抛光;对于粉末样品,要研磨至300目一400目,然后压成圆片,也可以放人样品槽中测定••。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面,则可以把试样用酸溶解,再沉淀成盐类进行测定••。对于液态样品可以滴在滤纸上,用红外灯蒸干水份后测定,也可以密封在样品槽中••。总之,所测样品不能含有水¶••⊿油和挥发性成份,更不能含有腐化性溶剂••。

  2¶••⊿X荧光光谱仪定性分析

  不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光x射线的波长或能量可以断定元素的组成••。如果是波长色散型光谱仪,对于必定晶面间距的晶体,由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入,从而断定元素成份••。对于能量色散型光谱仪,可以由通道来判别能量,从而断定是何种元素及成份••。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工辨别••。首先辨认出x光管靶材的特点x射线和强峰的伴随线,然后根据能量标注剩余谱线••。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的起源¶••⊿性质等元素,以便综合断定••。

  3¶••⊿X荧光光谱仪定量分析

  X射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时,该元素的荧光X射线的强度••。根据上式,可以采用标准曲线法¶••⊿增量法¶••⊿内标法等进行定量分析••。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能雷同或类似,否则试样的基体效应是指样品的基础化学组成和物理化学状态的变更对X射线荧光强度所造成的影响••。化学组成的变更,会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收,也会转变荧光加强效应••。例如,在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时,由于一次X射线的激发会产生Nika荧光X射线,Nika在样品中可能被Fe吸收,使Fe激发产生Feka••。测定Ni时,因为Fe的吸收效应使成果偏低,测定Fe时,由于荧光加强效应使成果偏高••。

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