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膜厚仪的正确度从哪些方面来进行进步?

点击次数:648 发布时间:2016-06-23

  膜厚仪的正确度从哪些方面来进行进步?
  覆层的厚度测量已成为金属加工工业进行成品德量检测必备的zui重要的工序,目前国内外已广泛按统一的国际标准测定涂镀层厚度,《中华国民共和国计量法》对膜厚仪测量厚度也提出了技巧请求••。膜厚仪的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要••。
  影响膜厚仪正确度的因素有以下几种:
  1¶••⊿基体金属特征:对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度类似;对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质类似••。
  2¶••⊿基体金属厚度:检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测资源网如果没有,可采用其他方法进行校准••。
  3¶••⊿边沿效应:不应在紧靠试件的突变处,如边沿¶••⊿洞和内转角等处进行测量••。
  4¶••⊿曲率:不应在试件的弯曲表面上测量••。
  5¶••⊿读数次数:通常由于膜厚仪的每次读数并不完整雷同,因此必须在每一测量面积内取几个读数••。笼罩层厚度的局部差别,也请求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此••。
  6¶••⊿表面干净度:测量前,应扫除表面上的任何附着物质,如尘土¶••⊿油脂及腐化产物等,但不要除去任何笼罩层物质••。

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