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分析rohs检测仪的原理

点击次数:1505次 发布时间:2012-04-10

  
  分析rohs检测仪的原理:
  rohs检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理••。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪重要部件包含激发源¶••⊿分光晶体和测角仪¶••⊿探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相干电子与把持部件,相对简略••。
  rohs检测仪波长色散X射线荧光光谱仪应用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:nλ=2dsinaθ(n=1,2,3…),式中,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次••。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以盘算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特点信息••。
  rohs检测仪能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特点射线能量:Q=kE,式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数••。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特点信息••。
  rohs检测仪待测元素的特点谱线需要采用必定的激发源才干获得••。目前惯例采用的激发源重要有射线光管和同位素激发源等••。
  rohs检测仪为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用必定的样品制备技巧,并对获得的强度进行相干的谱分析和数据处理••。

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