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简述镀层测厚仪的现状与发展

点击次数:1180次 发布时间:2016-05-05

  简述镀层测厚仪的现状与发展
  镀层厚度测量已成为加工工业¶••⊿表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段••。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确请求••。
  镀层测厚仪的测量方法重要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法¶••⊿磁性测量法及涡流测量法等等••。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多实用于抽样检验••。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,测量领域较小,X射线法可测极薄镀层¶••⊿双镀层¶••⊿合金镀层••。β射线法合适镀层和底材原子序号大于3的镀层测量••。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用••。
  随着技巧的日益进步,特别是近年来引入微机技巧后,采用镀层测厚仪向微型¶••⊿智能¶••⊿多功效¶••⊿高精度¶••⊿实用化的方向进了一步••。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的进步••。镀层测厚仪实用领域广,量程宽¶••⊿操作简便且价廉,是工业和科研应用zui广泛的测厚仪器••。

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