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产品名称:
X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)
产品型号:
Thick800D
产品报价:
1
产品特点:
X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)Thick800D:是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全主动软件操作,可多点测试,由软件把持仪器的测试点,以及移动平台••。是一款功效壮大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手••。
  Thick800DX荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)的详细材料:

 

X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规矩表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足渺小测试点的需求
高精度移动平台可精断定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可主动定位测试高度
定位激光断定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可把持移动平台,鼠标点击的地位就是被测点
高分辨率探头使分析成果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器掩护

X荧光/X射线测厚仪(膜厚仪)技巧指标

型号:Thick 800A
元素分析领域从硫(S)到铀(U)••。
一次可同时分析zui多24个元素,五层镀层••。
分析检出限可达2ppm,zui薄可测试0.005μm••。
分析含量一般为2ppm99.9% ••。
镀层厚度一般在50μm以内每种材料有所不同
任意多个可选择的分析和辨认模型••。
相互独立的基体效应校订模型••。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳固性可达0.1%
度适应领域为1530••。
电源: 交换220V±5V, 建议配置交换净化稳压电源••。
仪器尺寸:534(W) x 480 (D) x525(H) mm
重量:80 kG

 

标准配置:
高低压电源(美国Spellman进口
大功率X光管(英国Oxford牛津进口)
电制冷半导体探测器(美国AMPTEK进口
多道分析器(美国进口
把持电路
高压单元
移动样品台
高清楚CCD
准直器:含Ф8.0mm¶••⊿Ф6.0mm¶••⊿Ф2.0mm¶••⊿Ф1.0mm¶••⊿Ф0.5mm¶••⊿Ф0.2mm各一个
滤光片:5组滤光片
盘算机:品牌商务电脑(内存2G¶••⊿硬盘200G),17寸液晶显示器
打印机:彩色喷墨打印机

 

利用领域:

RoHS检测分析
地矿与合金铜合金¶••⊿锌合金¶••⊿镁合金¶••⊿钛合金¶••⊿钴合金¶••⊿不锈钢等金属样品的成分等)成分分析
金属镀层的厚度测量¶••⊿电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测

 

 

 

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产品相干要害字: 铅含量检测仪 无卤ROHS检测仪 八大重金属检测仪
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